鍍層合金XU分析儀儀器軟件

分析軟件簡(jiǎn)介                                  

功能介紹：快速地檢測(cè)金屬電鍍層的厚度

軟件界面簡(jiǎn)潔，操作方便，無(wú)需專業(yè)人士操作

軟件帶有標(biāo)樣校對(duì)功能，可以采用單標(biāo)樣和多標(biāo)樣，對(duì)無(wú)標(biāo)樣的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行校對(duì)，使得測(cè)試結(jié)果更接近實(shí)際值

無(wú)標(biāo)樣分析方法(FP法），測(cè)試不受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制

具有自動(dòng)定性分析功能，自動(dòng)元素識(shí)別功能，方便對(duì)樣品元素的識(shí)別和定性

具有疊加虛譜功能，方便作樣品的定性對(duì)比分析

鍍層合金XU分析儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：

1 光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005

2 X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005

3 庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求

準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器

移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)

高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性

新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

應(yīng)用范圍

金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定，RoHS檢測(cè)

鍍層合金分析儀用于彈簧、電子連接器、電子電器、螺栓和螺母、衛(wèi)浴、五金端子、螺絲、半導(dǎo)體封裝材料等產(chǎn)品ROHS及鍍層厚度測(cè)量。